JDSU MAP-200扫频波长测试系统

在一个盒式磁带提供双独立来源

单模（SM）/多模（MM）输出

内部调制

与MAP-200符合LXI标准的接口和IVI驱动程序使用时，可实现自动化

JDSU多应用平台（MAP-200）是一个光学测试和测量平台，是光传输网络设备的研发和生产测试的工具。当今瞬息万变的光通讯产品市场，需要在能够提高生产率的技术和工具上进行投资，而即使在严格的环境下，MAP-200可扩展测试平台也是合适之选。

基于上一代多应用平台（MAP），新MAP-200的不同之处在于将更多的模块组合放在了这个密集和ju有可配置性的平台上。无论是对于研发实验室，还是产品生产线，MAP-200都是测试工具的you选择，功能涵盖从插入损耗测试到色散代价测试。

应用

能够对光纤收发器和光纤收发组件进行测试

允许全面的无源/有源器件，激光以及放大器测试

便于10G和40G系统和子系统测试